(12)發(fā)明專利申請(qǐng)

(10)申請(qǐng)公布號(hào) CN 106094495 A(43)申請(qǐng)公布日 2016.11.09

(21)申請(qǐng)?zhí)?201610420556.5(22)申請(qǐng)日 2016.06.15

(71)申請(qǐng)人 國(guó)網(wǎng)江蘇省電力公司電力科學(xué)研究

院

地址 211103 江蘇省南京市江寧區(qū)帕威爾

路1號(hào)

申請(qǐng)人 國(guó)家電網(wǎng)公司(72)發(fā)明人 彭志強(qiáng)　張小易　霍雪松　張琦兵　

楊明　李虎成　樊海鋒　夏杰　鄭明忠　袁宇波　高磊　卜強(qiáng)生　宋亮亮　劉玙　宋爽　楊毅　(74)專利代理機(jī)構(gòu) 南京縱橫知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限

公司 32224

代理人 董建林

權(quán)利要求書1頁(yè) 說(shuō)明書3頁(yè) 附圖1頁(yè)

(51)Int.Cl.

G04G 7/00(2006.01)

CN 106094495 A()發(fā)明名稱

變電站智能電子設(shè)備時(shí)間同步精度和守時(shí)精度的測(cè)試方法(57)摘要

本發(fā)明公開(kāi)了一種變電站智能電子設(shè)備時(shí)間同步精度和守時(shí)精度的測(cè)試方法，變電站智能電子設(shè)備時(shí)間同步精度的測(cè)試方法：步驟1、將變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的對(duì)時(shí)接口與標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源連接，將被測(cè)IED設(shè)備與站內(nèi)時(shí)鐘源相連，將被測(cè)IED設(shè)備的檢修硬壓板上、下端分別與變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的空接點(diǎn)的正、負(fù)端相連；步驟2、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源進(jìn)行對(duì)時(shí)，被測(cè)IED設(shè)備通過(guò)站內(nèi)時(shí)鐘源進(jìn)行對(duì)時(shí)；步驟3、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀在T1時(shí)刻觸發(fā)空接點(diǎn)閉合；步驟4、被測(cè)IED設(shè)備接受到空接點(diǎn)閉合信號(hào)，產(chǎn)生SOE記錄，SOE記錄時(shí)間為T2；步驟5、計(jì)算T1-T2的絕對(duì)值，即為被測(cè)IED設(shè)備的時(shí)間同步精度。測(cè)試方法簡(jiǎn)單便捷，測(cè)試精度高。

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權(quán)　利　要　求　書

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1.變電站智能電子設(shè)備時(shí)間同步精度的測(cè)試方法，其特征在于，包括如下步驟：步驟1、將變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的對(duì)時(shí)接口與標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源連接，將被測(cè)IED設(shè)備與變電站的站內(nèi)時(shí)鐘源相連，將被測(cè)IED設(shè)備的檢修硬壓板上端與變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的空接點(diǎn)的正端相連，將被測(cè)IED設(shè)備的檢修硬壓板下端與變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的空接點(diǎn)的負(fù)端相連；

步驟2、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源進(jìn)行對(duì)時(shí)，被測(cè)IED設(shè)備通過(guò)站內(nèi)時(shí)鐘源進(jìn)行對(duì)時(shí)；

步驟3、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀在T1時(shí)刻觸發(fā)空接點(diǎn)閉合；步驟4、被測(cè)IED設(shè)備接受到空接點(diǎn)閉合信號(hào)，產(chǎn)生SOE記錄，SOE記錄時(shí)間為T2；步驟5、計(jì)算T1‐T2的絕對(duì)值，即為被測(cè)IED設(shè)備的時(shí)間同步精度。

其特征在于，2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的變電站智能電子設(shè)備時(shí)間同步精度的測(cè)試方法，

空接點(diǎn)閉合時(shí)間大于檢修硬壓板防抖時(shí)間。

其特征在于，3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的變電站智能電子設(shè)備時(shí)間同步精度的測(cè)試方法，

T1時(shí)刻為整秒時(shí)刻。

4.變電站智能電子設(shè)備守時(shí)精度的測(cè)試方法，其特征在于，包括如下步驟：步驟a、將變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的對(duì)時(shí)接口與標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源連接，將被測(cè)IED設(shè)備與變電站的站內(nèi)時(shí)鐘源相連，將被測(cè)IED設(shè)備的檢修硬壓板上端與變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的空接點(diǎn)的正端相連，將被測(cè)IED設(shè)備的檢修硬壓板下端與變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的空接點(diǎn)的負(fù)端相連；

步驟b、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源進(jìn)行對(duì)時(shí)，被測(cè)IED設(shè)備通過(guò)站內(nèi)時(shí)鐘源進(jìn)行對(duì)時(shí)；

步驟c、斷開(kāi)被測(cè)IED設(shè)備的站內(nèi)時(shí)鐘源，使被測(cè)IED設(shè)備進(jìn)入守時(shí)模式；步驟d、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀在T3時(shí)刻觸發(fā)空接點(diǎn)閉合；步驟e、被測(cè)IED設(shè)備接受到空接點(diǎn)閉合信號(hào)，產(chǎn)生SOE記錄，SOE記錄時(shí)間為T4；步驟f、計(jì)算T3‐T4的絕對(duì)值，即為被測(cè)IED設(shè)備的守時(shí)精度。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的變電站智能電子設(shè)備守時(shí)精度的測(cè)試方法，其特征在于，空接點(diǎn)閉合時(shí)間大于檢修硬壓板防抖時(shí)間。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的變電站智能電子設(shè)備守時(shí)精度的測(cè)試方法，其特征在于，T3時(shí)刻為整秒時(shí)刻。

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說(shuō)　明　書

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變電站智能電子設(shè)備時(shí)間同步精度和守時(shí)精度的測(cè)試方法

技術(shù)領(lǐng)域

[0001]本發(fā)明涉及一種變電站智能電子設(shè)備時(shí)間同步精度和守時(shí)精度的測(cè)試方法。背景技術(shù)

[0002]電力系統(tǒng)時(shí)間同步的準(zhǔn)確性是保障電力系統(tǒng)運(yùn)行控制和故障分析的重要基礎(chǔ)條件，其核心功能是為暫態(tài)、動(dòng)態(tài)、穩(wěn)態(tài)數(shù)據(jù)采集和電網(wǎng)故障分析提供時(shí)間同步功能服務(wù)。變電站時(shí)間同步系統(tǒng)為站內(nèi)二次設(shè)備提供授時(shí)源，目前對(duì)于智能電子設(shè)備(IED)時(shí)間同步精度及守時(shí)精度的測(cè)試缺少簡(jiǎn)單便捷的測(cè)試方法。

發(fā)明內(nèi)容

[0003]針對(duì)上述問(wèn)題，本發(fā)明提供一種變電站智能電子設(shè)備時(shí)間同步精度和守時(shí)精度的測(cè)試方法，測(cè)試方法簡(jiǎn)單便捷，測(cè)試精度高，可以應(yīng)用于變電站二次設(shè)備出廠驗(yàn)收測(cè)試及現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收測(cè)試。

[0004]為實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)目的，達(dá)到上述技術(shù)效果，本發(fā)明通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)：[0005]變電站智能電子設(shè)備時(shí)間同步精度的測(cè)試方法，包括如下步驟：其特征在于，[0006]步驟1、將變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的對(duì)時(shí)接口與標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源連接，將被測(cè)IED設(shè)備與變電站的站內(nèi)時(shí)鐘源相連，將被測(cè)IED設(shè)備的檢修硬壓板上端與變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的空接點(diǎn)的正端相連，將被測(cè)IED設(shè)備的檢修硬壓板下端與變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的空接點(diǎn)的負(fù)端相連；[0007]步驟2、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源進(jìn)行對(duì)時(shí)，被測(cè)IED設(shè)備通過(guò)站內(nèi)時(shí)鐘源進(jìn)行對(duì)時(shí)；[0008]步驟3、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀在T1時(shí)刻觸發(fā)空接點(diǎn)閉合；[0009]步驟4、被測(cè)IED設(shè)備接受到空接點(diǎn)閉合信號(hào)，產(chǎn)生SOE記錄，SOE記錄時(shí)間為T2；[0010]步驟5、計(jì)算T1‐T2的絕對(duì)值，即為被測(cè)IED設(shè)備的時(shí)間同步精度。[0011]變電站智能電子設(shè)備守時(shí)精度的測(cè)試方法，包括如下步驟：其特征在于，[0012]步驟a、將變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的對(duì)時(shí)接口與標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源連接，將被測(cè)IED設(shè)備與變電站的站內(nèi)時(shí)鐘源相連，將被測(cè)IED設(shè)備的檢修硬壓板上端與變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的空接點(diǎn)的正端相連，將被測(cè)IED設(shè)備的檢修硬壓板下端與變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的空接點(diǎn)的負(fù)端相連；[0013]步驟b、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源進(jìn)行對(duì)時(shí)，被測(cè)IED設(shè)備通過(guò)站內(nèi)時(shí)鐘源進(jìn)行對(duì)時(shí)；[0014]步驟c、斷開(kāi)被測(cè)IED設(shè)備的站內(nèi)時(shí)鐘源，使被測(cè)IED設(shè)備進(jìn)入守時(shí)模式；[0015]步驟d、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀在T3時(shí)刻觸發(fā)空接點(diǎn)閉合；[0016]步驟e、被測(cè)IED設(shè)備接受到空接點(diǎn)閉合信號(hào)，產(chǎn)生SOE記錄，SOE記錄時(shí)間為T4；[0017]步驟f、計(jì)算T3‐T4的絕對(duì)值，即為被測(cè)IED設(shè)備的守時(shí)精度。[0018]本發(fā)明的有益效果是：

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CN 106094495 A[0019]

說(shuō)　明　書

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本發(fā)明提供一種利用IED設(shè)備檢修硬壓板開(kāi)入，串接變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的

開(kāi)出空接點(diǎn)，控制開(kāi)出空接點(diǎn)的閉合使IED設(shè)備產(chǎn)生SOE事件來(lái)測(cè)試時(shí)間同步精度和守時(shí)精度的測(cè)試方法，通過(guò)該方法可解決變電站二次設(shè)備出廠驗(yàn)收測(cè)試及現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收測(cè)試無(wú)有效測(cè)試手段的問(wèn)題，提高測(cè)試效率和測(cè)試精度。

附圖說(shuō)明

[0020]圖1是本發(fā)明變電站智能電子設(shè)備時(shí)間同步精度的測(cè)試方法的結(jié)構(gòu)示意圖；[0021]圖2是本發(fā)明變電站智能電子設(shè)備守時(shí)精度的測(cè)試方法的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

[0022]下面結(jié)合附圖和具體的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案作進(jìn)一步的詳細(xì)描述，以使本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以更好的理解本發(fā)明并能予以實(shí)施，但所舉實(shí)施例不作為對(duì)本發(fā)明的限定。

[0023]變電站智能電子設(shè)備時(shí)間同步精度的測(cè)試方法，包括如下步驟：[0024]步驟1、如圖1所示，將變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的對(duì)時(shí)接口與標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源連接，將被測(cè)IED設(shè)備(變電站IED設(shè)備包括測(cè)控裝置、繼電保護(hù)裝置、智能終端、合并單元等)與變電站的站內(nèi)時(shí)鐘源相連，將被測(cè)IED設(shè)備的檢修硬壓板上端與變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的空接點(diǎn)的正端相連，將被測(cè)IED設(shè)備的檢修硬壓板下端與變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的空接點(diǎn)的負(fù)端相連。

[0025]其中標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源接收衛(wèi)星時(shí)間源，對(duì)外輸出標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間，變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀通過(guò)對(duì)時(shí)接口接受標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源的對(duì)時(shí)信號(hào)，對(duì)時(shí)精度高于IEC設(shè)備的時(shí)間精度，變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀通過(guò)硬接線IRIG‐B碼與標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源連接。[0026]步驟2、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源進(jìn)行對(duì)時(shí)，被測(cè)IED設(shè)備通過(guò)站內(nèi)時(shí)鐘源進(jìn)行對(duì)時(shí)；[0027]步驟3、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀在T1時(shí)刻觸發(fā)空接點(diǎn)閉合，優(yōu)選，空接點(diǎn)閉合時(shí)間大于檢修硬壓板防抖時(shí)間。另外，為了便于計(jì)算并減少誤差，最好設(shè)置整秒時(shí)刻，即變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀在整秒T1時(shí)刻觸發(fā)空接點(diǎn)閉合。[0028]步驟4、被測(cè)IED設(shè)備接受到空接點(diǎn)閉合信號(hào)，產(chǎn)生SOE(事件記錄)記錄，SOE記錄時(shí)間為T2，可以通過(guò)IED裝置液晶查看SOE記錄時(shí)間或在變電站監(jiān)控后臺(tái)查看SOE記錄時(shí)間。[0029]步驟5、計(jì)算T1‐T2的絕對(duì)值，即為被測(cè)IED設(shè)備的時(shí)間同步精度。[0030]相對(duì)應(yīng)的，變電站智能電子設(shè)備守時(shí)精度的測(cè)試方法，包括如下步驟：[0031]步驟a、將變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的對(duì)時(shí)接口與標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源連接，將被測(cè)IED設(shè)備與變電站的站內(nèi)時(shí)鐘源相連，將被測(cè)IED設(shè)備的檢修硬壓板上端與變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的空接點(diǎn)的正端相連，將被測(cè)IED設(shè)備的檢修硬壓板下端與變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的空接點(diǎn)的負(fù)端相連；[0032]步驟b、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間源進(jìn)行對(duì)時(shí)，被測(cè)IED設(shè)備通過(guò)站內(nèi)時(shí)鐘源進(jìn)行對(duì)時(shí)；[0033]步驟c、斷開(kāi)被測(cè)IED設(shè)備的站內(nèi)時(shí)鐘源，使被測(cè)IED設(shè)備進(jìn)入守時(shí)模式，如圖2所示；

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說(shuō)　明　書

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步驟d、變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀在T3時(shí)刻觸發(fā)空接點(diǎn)閉合。優(yōu)選，空接點(diǎn)閉合時(shí)

間大于檢修硬壓板防抖時(shí)間。另外，為了便于計(jì)算并減少誤差，最好設(shè)置整秒時(shí)刻，即變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀在整秒T3時(shí)刻觸發(fā)空接點(diǎn)閉合。[0035]步驟e、被測(cè)IED設(shè)備接受到空接點(diǎn)閉合信號(hào)，產(chǎn)生SOE記錄，SOE記錄時(shí)間為T4；[0036]步驟f、計(jì)算T3‐T4的絕對(duì)值，即為被測(cè)IED設(shè)備的守時(shí)精度。[0037]本發(fā)明提供一種利用IED設(shè)備檢修硬壓板開(kāi)入，串接變電站綜合自動(dòng)化測(cè)試儀的開(kāi)出空接點(diǎn)，控制開(kāi)出空接點(diǎn)的閉合使IED設(shè)備產(chǎn)生SOE事件來(lái)測(cè)試時(shí)間同步精度和守時(shí)精度的測(cè)試方法，通過(guò)該方法可解決變電站二次設(shè)備出廠驗(yàn)收測(cè)試及現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收測(cè)試無(wú)有效測(cè)試手段的問(wèn)題，提高測(cè)試效率和測(cè)試精度。測(cè)試方法簡(jiǎn)單便捷，測(cè)試精度高，可以應(yīng)用于變電站二次設(shè)備出廠驗(yàn)收測(cè)試及現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收測(cè)試。[0038]以上僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，并非因此本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說(shuō)明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或者等效流程變換，或者直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)

均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。的技術(shù)領(lǐng)域，

5

CN 106094495 A

說(shuō)　明　書　附　圖

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圖1

圖2

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