產(chǎn)品型號(hào)ALL 1.目的使檢驗(yàn)人員明確DIP電容的檢測(cè)方法，降低不良率，提升制程直通率。 2.適用范圍該程序適用于公司所有電容的檢驗(yàn)。 3.檢驗(yàn)工具 游標(biāo)卡尺、LCR數(shù)字電橋、高壓儀 4.抽樣標(biāo)準(zhǔn)按MIL-STD-105E正常單次抽樣，II級(jí)水平 5.判定等級(jí)AQL： MAJ：0.4 MIN:1.5 6.檢驗(yàn)步驟： 6.1 包裝檢驗(yàn)：根據(jù)送檢單內(nèi)容，對(duì)照BOM檢驗(yàn)來(lái)料標(biāo)識(shí)是否清晰、有無(wú)錯(cuò)料、混料，包裝有無(wú)破損、臟 污、水漬等。6.2 外觀檢驗(yàn)：電容本體外觀良好，不得有破損、臟污現(xiàn)象，引腳須光亮、無(wú)氧化現(xiàn)象，表面表識(shí)容量、耐壓、誤差應(yīng)標(biāo)示正確、清楚、不易擦拭。 6.3 尺寸檢驗(yàn)： 根據(jù)樣品、承認(rèn)書、BOM用卡尺測(cè)量電解電容直徑、高度、引腳長(zhǎng)度及間距等是否與樣品、承認(rèn)書、BOM要求相附。 6.4 試裝檢驗(yàn)： 將來(lái)料與相配PCB進(jìn)行試裝,要求配合良好。 6.5 容量測(cè)試：根據(jù)承認(rèn)書上的參數(shù)設(shè)置LCR電橋，測(cè)試的容量要求與承認(rèn)書、BOM相附。 6.7 安規(guī)檢驗(yàn)：安規(guī)電容按承認(rèn)書、樣品檢驗(yàn)電容本體是否安全認(rèn)證標(biāo)識(shí)及生產(chǎn)產(chǎn)商名。 6.8 高壓測(cè)試：針對(duì)各種安規(guī)電容，按承認(rèn)書進(jìn)行高壓試驗(yàn)，不可有擊穿、爆裂、漏電等安全隱患。* 注意事項(xiàng)： 1、檢驗(yàn)時(shí)必須配戴靜電環(huán)。執(zhí)行工位IQC文件名稱DIP電容檢測(cè)作業(yè)指導(dǎo)書文件編碼版本號(hào)本頁(yè)號(hào)A02總頁(yè)數(shù)2制訂審核 批準(zhǔn) 日期